2026년 10월 15일 목요일
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반도체 검사 부품 첨단기술 중국서 무단 사용…3명 재판행

[서울=아시아뉴스통신] 윤자희기자 송고시간 2026-10-15 00:00

(사진제공=대전지방공소청 중대범죄기소2부)


[아시아뉴스통신=윤자희 기자] 대전지방공소청 중대범죄기소2부(부장검사 허윤희)는 지식재산처 특별사법경찰(과장 이상돈)과 협력하여, 국내 반도체 검사 부품(프로브카드) 업체에서 퇴직 후 중국 업체로 이직하여 첨단기술로 지정된 국내 업체의 기술자료를 제품 개발에 사용한 직원 3명(1명 구속)을 기소하였다.

지식재산처는 국가정보기관에서 수집한 첩보를 바탕으로 신속히 수사에 착수하였고, 유출된 국내 업체의 자료를 활용하여 중국 현지 업체에서 제품을 개발한 전직 국내 업체 직원 3명을 적발하고 그중 1명을 구속하였으며, 공소청은 송치 후 보완수사를 통해 피고인들의 산업기술의유출방지및보호에관한법률위반 혐의를 추가로 인지하고 형사소송법 개정 이후에는 지식재산처를 통해 추가로 기술 자료를 분석한 후 기소하였다.

기술 전문성을 가진 지식재산처와 법률 전문성을 가진 공소청은 수사개시부터 공소제기에 이르기까지 전 과정에서 긴밀하게 협력하여 신속하게 피고인들의 범행을 적발하고 추가 범행을 차단하였다.
 

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